Microsemi公司的5120A/5125A系列相位噪声及艾伦偏差(ADEV)测试仪，采用超低噪底，准确、高速的数模转化器，无需外部校准。全数字一体化设计，一次按键便可开始测量，几秒钟后测试数据便出现在高分辨率显示屏上。
    5120A/5125A采用了创新的互相关技术，交叉关联双通道的离散傅里叶变换，抵消了系统本身的噪声，更好的估算输入信号的噪声，从而获得更精确的测量结果。
    5120A可选择增添内部振荡器选项（-01选项），无需外部参考源，独立完成测量。5125A将测量频率范围扩展到400MHz，应对更广泛的测试、测量需求。

   相位噪声和艾伦方差同时测量
   频率范围：5120A：1-30MHz，5125A：1-400MHz
   支持被测信号和参考源使用不同的频率值
   无需校准，一键开始，几秒钟后实时显示数据
   艾伦方差测量超过300天
   相位噪声测量接近0.1mHz
   实时显示内部噪声
   通过网口远程管理和数据采集