3120A相位噪声及艾伦方差测试仪
3120A相位噪声及艾伦方差测试仪
产品概述：
Microchip公司（原Microsemi）的3120A相位噪声及艾伦方差测试仪能够进行准确的相位噪声和艾伦偏差测量，被测信号范围从0.5MHz至30MHz，覆盖全部常用的标准频率参考。3120A需要一个外部参考频率源，以及运行在外部计算机上的测试软件来完成相位噪声及艾伦方差的测量。除了相位噪声和艾伦偏差，用户还可以选择升级测试软件，还可以获得HDEV、MDEV、TDEV、抖动（jitter）的测量数据，以及频率计数器和Mask限制测试的功能。
3120A采用了全数字架构，使用先进、高速、低噪声数模转换器，不需要锁相环进行测量，配合简单易用的测试软件，是客户完成频率测试、测量工作的，具有经济效益的方式。
主要特征：
小巧的外形，经济的价格 不需要校准，几秒钟就可显示测量结果 支持被测和参考信号为不同的频率 实时图形显示相位及频率偏差，可记录超过100万个采集点 具备数字I/O扩展端口和独立的ADC输入 随机的测量软件，简单易用，具备高效的表现 支持直观的ASCII文件类型的数据导入/导出
技术规格：
上一个：
4033A 15路脉冲分配放大器
下一个：
XPRO高性能铷原子钟
